Analytische instrumentatie
Elementanalyse
Handheld XRF-toestellen
Handheld XRF-toestellen kunnen bijna elk element, van Fluor tot Uranium, non-destructief kwantificeren of kwalificeren, afhankelijk van de configuratie van het instrument. Deze technologie is niet-destructief en zeer snel dankzij het point-en-shoot-principe. De toestellen vinden hun toepassing in de geologie, voedingstechnologie, archeologie, milieutechnologie, bouwsector en polymeerindustrie.
CS/ONH-analyzers
Deze analyzers bepalen nauwkeurig de aanwezigheid van koolstof, zwavel, zuurstof, stikstof en waterstof in metalen, metaallegeringen en andere anorganische monsters. Dit is essentieel voor het controleren van de materiaalkwaliteit en het naleven van industriële normen.
Micro-XRF spectrometers
Micro XRF is een krachtige analytische techniek die wordt gebruikt om de elementaire samenstelling van materialen op microniveau te bestuderen. Deze techniek stelt onderzoekers in staat om gedetailleerde ruimtelijke informatie te verkrijgen over de verdeling van elementen in een monster, bijvoorbeeld door middel van mapping, en dit op monsters met maximale afmetingen van 20 cm x 15 cm en een resolutie tot < 20 µm.
TXRF spectrometers
Bij Total Reflection XRF of TXRF is er, in tegenstelling tot ICP en AAS, geen destructie van het monster nodig, wat betekent dat chemicaliën overbodig zijn. Ook dragergassen zoals Argon zijn overbodig. TXRF is een geavanceerde analytische techniek die wordt gebruikt voor de elementaire analyse van diverse materialen. Het is vooral nuttig voor het detecteren en kwantificeren van sporenelementen in verschillende monsters, variërend van (afval)waters en andere vloeistoffen, en poeders tot vaste stoffen.
