Gamme de produits
Microscopie électronique et numérique
Découvrez la puissance de la microscopie numérique et de la microscopie électronique à balayage (MEB) pour le contrôle qualité, la R&D, l’inspection et l’analyse des matériaux de premier ordre. Grâce à des techniques telles que le broyage ionique et le revêtement par pulvérisation plasma, découvrez les détails les plus fins des matériaux, contribuant ainsi à l’innovation et garantissant l’excellence des produits.
Microscopes numériques
Les microscopes numériques offrent une qualité d’image supérieure, une utilisation intuitive et des outils logiciels avancés pour des analyses détaillées. Ils éliminent la nécessité des oculaires traditionnels, réduisent la fatigue oculaire et améliorent l’ergonomie lors d’inspections prolongées.
Nous travaillons avec Tagarno, un fabricant danois leader en microscopes numériques, afin de fournir des solutions d’inspection avancées. Ces microscopes sont largement utilisés pour le contrôle qualité dans les industries électronique, pharmaceutique et agroalimentaire, où la précision et la reproductibilité des analyses sont essentielles.
Métalliseur pour échantillon MEB
La technologie unique A² de LUXOR génère un plasma et l’applique de manière contrôlée et précise. Cela permet d’obtenir une couche d’or ou de platine ultra-uniforme, fine et homogène sur votre matériau non conducteur.
Les coaters LUXOR sont réputés pour leur rapidité et leur facilité d’utilisation et sont disponibles en deux versions : le coater or et le coater platine. Ils garantissent des images SEM de haute qualité, même avec des échantillons difficiles tels que les matériaux sensibles aux radiations et non conducteurs.
AFM-in-SEM
Le LiteScope AFM-in-SEM est conçu pour combiner les avantages des techniques AFM et MEB, optimisant ainsi le workflow et étendant les possibilités de microscopie corrélative et d’analyse in situ, qui étaient auparavant difficiles, voire impossibles, avec les instruments conventionnels.
Avantages de la solution AFM-in-SEM
- Analyse d’échantillons complexe et corrélative: La technologie avancée CPEM permet la collecte simultanée de données AFM et MEB et leur corrélation parfaite.
- Caractérisation in situ des échantillons: Les mesures in situ dans le MEB permettent l’analyse des échantillons au même moment, au même endroit et dans les mêmes conditions.
- Localisation précise de la zone d’intérêt: Une approche extrêmement précise et rapide permet d’utiliser le MEB pour guider la pointe AFM vers la zone d’intérêt, facilitant son repérage et son analyse.
Microscopie à platine chauffante
Pour les analyses microscopiques à des températures extrêmes (-195°C à 1500°C), nous proposons une large gamme de platines chauffantes et de refroidissement de Linkam Scientific. Ces systèmes permettent un contrôle précis de la température et peuvent fonctionner sous des conditions contrôlées telles que l’atmosphère, l’humidité, la pression ou le vide.
Nos platines sont compatibles avec les microscopes des marques Olympus, Nikon, Zeiss, Leica, Euromex, et bien d’autres, offrant un large éventail d’options de montage.
Préparation des échantillons pour la recherche à l’échelle nanométrique
Pour une préparation d’échantillons de haute qualité en sciences de la vie et en science des matériaux, nous proposons des solutions avancées de RMC Boeckeler. Ces systèmes assurent des coupes précises et reproductibles, essentielles pour des analyses structurelles détaillées, y compris en microscopie électronique 3D.
Notre gamme comprend :
- Microtomie et ultramicrotomie – Pour des coupes ultra-minces et d’une grande précision
- Cryo-ultramicrotomie – Pour les échantillons délicats à basse température
- Stations de coupe automatisées – Solutions optimisées pour une productivité accrue
- Accessoires et consommables – Pour une préparation d’échantillons efficace et reproductible
Ces technologies sont utilisées en recherche sur les matériaux, recherche biomédicale, pathologie et nanotechnologie, où l’analyse ultrastructurale est cruciale.
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