Ce webinaire aura lieu le 23 mars 2022.
La fluorescence X à résolution spatiale, également appelée micro-XRF, a été décrite pour la première fois il y a plus de 50 ans. Depuis lors, elle est restée pendant de nombreuses années une technique de niche, bien qu’elle soit assez courante dans plusieurs domaines d’application industriels et universitaires. Les premières publications ont identifié les mêmes avantages analytiques qui s’appliquent encore aujourd’hui, tels que l’analyse non destructive de petites zones spécifiques dans un échantillon plus grand, permettant de mieux décrire les matériaux chimiquement non homogènes. En outre, la technique est rapide, car elle ne nécessite que peu ou pas de préparation d’échantillons, et elle est sensible aux éléments majeurs et aux traces.
Ces dernières années, les performances de la technique ont été améliorées par une série de développements technologiques. Les progrès réalisés dans les sources d’excitation, l’amélioration des capacités de détection et de traitement des signaux, combinés à des algorithmes efficaces et convaincants pour l’extraction et la quantification des données, ont créé une technique d’analyse puissante et polyvalente. Par conséquent, la micro-XRF est considérée comme une technique indispensable dans l’analyse des matériaux.
Ce webinaire est le premier d’une série de trois. La série s’intitule « Back to the Roots » (retour aux sources). Au fil des ans, Bruker a créé une multitude de webinaires de grande qualité que vous pouvez trouver ici. Cependant, suite à des demandes récentes, Bruker a décidé de revenir « aux racines » de l’analyse micro-XRF. Ce premier webinaire présentera la micro-XRF en tant que technique, soulignera la pertinence analytique de plusieurs composants de l’instrument et parlera de leur importance d’un point de vue analytique. Les composants abordés sont, entre autres, la source de rayons X et l’optique, les détecteurs, les filtres primaires et le système de vide. Le deuxième webinaire se concentrera sur l’analyse de la distribution des éléments, l’une des principales capacités de cette technique, tandis que le dernier webinaire abordera en détail les analyses quantitatives par micro-XRF.
En fin de compte, Bruker vise à fournir un ensemble d’informations compactes mettant en évidence ce qu’ils pensent être les principales capacités de la technique, et à explorer les caractéristiques du M4 TORNADO qui en font l’instrument micro-XRF de paillasse le plus polyvalent du marché.
Scan d’une empreinte digitale avec l’instrument micro-XRF M4 TORNADO
Scan de feuilles avec l’instrument micro-XRF M4 TORNADO
Scan d’une micro-puce téléphonique hautement intégrée avec l’instrument micro-XRF M4 TORNADO
Qui devrait participer ?
- Scientifiques spécialistes des matériaux
- Géo- et bio-chercheurs
- Experts en analyse des défaillances
- Utilisateurs du logiciel M4, intéressés par l’optimisation des conditions de numérisation.
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Intervenants
Falk Reinhardt
Scientifique d’application senior Micro-XRF, Bruker Nano Analytics
Dr. Roald Tagle
Scientifique d’application senior Micro-XRF, Bruker Nano Analytics
* Les formulaires d’inscription sont optimisés pour le navigateur Google Chrome. Le contenu des deux sessions est identique.